Implantes com conexão morse: uma realidade sólida e consolidada em estudos longitudinais

Por Implacil | 20 de fevereiro de 2019

Autores:

– Jamil Shibli

– João Paulo A. De Bortoli

O implante cone-morse possui uma conexão implante-pilar que se baseia no princípio da solda fria, obtida pela alta pressão de contato e resistência à fricção entre a superfície do implante e o pilar protético. A conexão é chamada de “autotravamento” se o ângulo de inclinação das paredes internas for menor do que 5 graus. A conexão implante-pilar do cone-morse pode resistir a complexas cargas excêntricas e micromovimentos, garantindo uma estabilidade mecânica e reduzindo significativamente a incidência de complicações protéticas na interface implante-pilar. Os implantes de conexão cônica representam um procedimento bem-sucedido para a reabilitação de pacientes parcialmente e completamente desdentados, com excelentes taxas de sobrevivência e sucesso, superando mais de 90% após o período de dez a 20 anos.

O sucesso dessa conexão está diretamente relacionado à obtenção da pré-carga durante o torque inicial e à manutenção dessa carga ao longo do tempo. As causas mais prováveis de afrouxamento do parafuso são a flexão excessiva da junta do parafuso e os efeitos de sedimentação que surgem dos micromovimentos na interface implante-pilar. Para evitar a potencial falha clínica das juntas dos parafusos, é essencial que a força de fixação seja maximizada ou que as forças de separação da junta sejam mantidas abaixo da força de fixação. No entanto, em conexões cone-morse, o travamento e a fricção são os princípios básicos, e esse mecanismo – chamado de travamento positivo ou geométrico – é considerado responsável por proteger as espiras do pilar da carga funcional excessiva. Diferentemente dos projetos de conexões de topo, a redução do micromovimento da interface do cone-morse fornece resistência superior e estabilidade desta junção. Com torque maior, a área linear de contato entre o implante e o pilar protético aumenta, reduzindo o espaço entre os componentes.

O travamento no encaixe do cone-morse pode evitar micromovimentos na interface implante-pilar, reduzindo ou minimizando um dos fatores associados à remodelação óssea peri-implantar ao redor de implantes de hexágono externo e interno. Além disso, com os implantes de conexão cone-morse, o espaço presente após travamento do conjunto implante-pilar torna-se tão reduzido, quase inexistente, que muitas vezes eles são considerados uma única peça sólida. Complementarmente, com encaixe cônico, a geometria de emergência do pilar fornece as vantagens da plataforma switching: o diâmetro do pilar protético é menor do que o diâmetro do implante que, associado à junção morse, estende a junção coroa protética-pilar a uma certa distância da crista óssea marginal, reduzindo a remodelação óssea devido ao espaço biológico – o que resulta na aparência clínica de que “o implante cone-morse não perde osso”. Embora isso realmente ocorra, desde que todos os preceitos cirúrgicos e protéticos tenham sido obedecidos, essa associação geométrica (conexão e plataforma) resulta em uma menor alteração vertical no nível do osso crestal que, comparada às conexões hexagonais, são bem menores.

Portanto, acredita-se que o sucesso do projeto de troca de plataforma ou deslocamento horizontal na interface do pilar do implante seja uma consequência do reposicionamento horizontal do microgap. Isso proporciona maior espaço físico para a adaptação do tecido conjuntivo após a cicatrização dos tecidos moles e melhora o selamento biológico constituído por um volume mais espesso, maior e bem organizado de tecidos moles peri-implantares, o que protege a crista óssea da reabsorção. Existe ainda a possibilidade de que, juntamente com o selamento do tecido conjuntivo ao redor dos pilares morse, haja uma neoformação óssea sobre o pescoço do implante, aumentando ainda mais este selamento mecânico e, por que não dizer, biológico.

Neste contexto, em um recente estudo longitudinal de oito anos de acompanhamento1, observou-se que dos 44 pacientes e 202 implantes avaliados no período (Figura 1), o índice de sucesso foi de 96,6% e a incidência de peri-implantite (perda óssea radiográfica > 5 mm, profundidade de sondagem > 5 mm, sangramento a sondagem e/ou supuração) foi de 3%. A remodelação óssea peri-implantar foi de aproximadamente 1 mm após oito anos de avaliação (Figura 2). Entretanto, cumpre salientar que esta população apresentava um ótimo compliance, com retornos semestrais nos primeiros dois anos e anuais nos demais.

 

Figura 1 – Aspecto clínico da mucosa peri-implantar favorecendo o perfil de emergência de restauração implantossuportada sobre implante de conexão morse.

 

Figura 2 – Radiografia periapical de implante morse, sob função há oito anos. Note o mínimo remodelamento presente na região coronária.

 

Outros fatores de risco, como fumo, altura do pilar protético em relação à crista óssea e diâmetro do implante, também foram avaliados. Dentre estes, pilares com cinta de 0,8 mm (Figura 3) foram mais suscetíveis à perda óssea quando comparados aos pilares de cinta maior do que 1,5 mm (Figura 4).

 

Figura 3 – Peri-implantite em implante cone-morse com pilar de cinta 0,8 mm.

 

Figura 4 – A altura ideal da cinta do pilar deve ser maior ou igual a 1,5 mm.

 

O contexto aqui apresentado não faz apologia ou execração de um sistema de conexão ou de outro, mas apresenta dados muito importantes para que o especialista esteja bem informado sobre as vantagens e desvantagens de um sistema ou outro, e ainda sobre a ótima estabilidade peri-implantar. Pense nisso no seu próximo planejamento reverso. Um ótimo início de ano para todos, com muitos implantes e poucos problemas biológicos e técnicos.

REFERÊNCIA

1. Bortoli JPA. Incidência da perda óssea ao redor de implantes cone morse: dados preliminares de uma análise de 8 anos [tese]. São Paulo: Universidade Univeritas UNG.

 

Fonte: INPN

Jamil Shibli

Professor adjunto do Programa de Pós-Graduação em Odontologia (Implantodontia e Periodontia); responsável pela área de Implantodontia (doutorado e mestrado) em pós-graduação em Odontologia; coordenador do curso de Especialização em Implantodontia – Universidade de Guarulhos (UnG); Livre Docente do Departamento de Cirurgia e Traumatologia Bucomaxilofacial e Periodontia da Faculdade de Odontologia de Ribeirão Preto (FORP – USP); Doutor, mestre e especialista em Periodontia – Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho (Unesp); Visiting professor – School of Dental Medicine, State Univ. of New York at Buffalo – (USA) e Department of Oral Pathology and Medicine, Univ. of Chieti – (Itália).

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Jamil Shibli

João Paulo A. De Bortoli

Doutor em Implantodontia – Universidade Guarulhos (UnG); Mestre em Implantodontia – Universidad Católica San Antonio de Murcia (Ucam).

Jamil Shibli